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Vibration & Shock Test for Semiconductor

반도체의 진동, 충격 신뢰성 시험을 위한 최적의 시험 솔루션을 제공합니다.

반도체 이미지

JEDEC JESD22-B103-B, Vibration, Variable Frequency

  • 반도체 등 전자부품의 진동시험에 관한 국제 표준

JEDEC JESD22-B104-C, Mechanical Shock

  • 반도체 등 전자부품의 충격시험에 관한 국제 표준

JEDEC JESD22-B111, Board Level Drop Test Method of Components for Handheld Electronic Products

  • 반도체 등 전자부품을 탑재한 회로기판의 낙하충격시험에 관한 국제 표준
충격시험 이미지

충격시험

복합 수직 진동 이미지

복합 수직 진동

소형부품 진동시험 이미지

소형부품 진동시험

열충격 이미지

열충격

온·습도시험 이미지

온·습도시험

By Application

  • 하기의 몇 가지 전자제품 및 부품 외에도 다양한 부품으로 이루어진 우주항공 분야의 각 부품에 대한 진동 및 충격, 온 · 습도시험을 시행하고 있으며, 이에 대한 적합한 시험장비들이 구비되어 있습니다.
JEDEC Drop Test 이미지

JEDEC Drop Test

Semiconductor 이미지

Semiconductor

Semiconductor 이미지

Semiconductor

PCB Board 이미지

PCB Board

PCB Board 이미지

PCB Board