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G.U.는 시험 및 해석에 필요한 기술 정보를 제공합니다.
Vibration & Shock Test for Semiconductor
반도체의 진동, 충격 신뢰성 시험을 위한 최적의 시험 솔루션을 제공합니다.
JEDEC JESD22-B103-B, Vibration, Variable Frequency
- 반도체 등 전자부품의 진동시험에 관한 국제 표준
JEDEC JESD22-B104-C, Mechanical Shock
- 반도체 등 전자부품의 충격시험에 관한 국제 표준
JEDEC JESD22-B111, Board Level Drop Test Method of Components for Handheld Electronic Products
- 반도체 등 전자부품을 탑재한 회로기판의 낙하충격시험에 관한 국제 표준
충격시험
복합 수직 진동
소형부품 진동시험
열충격
온·습도시험
By Application
- 하기의 몇 가지 전자제품 및 부품 외에도 다양한 부품으로 이루어진 우주항공 분야의 각 부품에 대한 진동 및 충격, 온 · 습도시험을 시행하고 있으며, 이에 대한 적합한 시험장비들이 구비되어 있습니다.
JEDEC Drop Test
Semiconductor
Semiconductor
PCB Board
PCB Board